《表面微观结构对钛基电极锡锑氧化物层泥裂的影响》

技术简介：

在钛基金属氧化物电极制备过程中，锡锑氧化物（ATO）层泥裂是影响电极性能的一个关键难题。分别以致密钛板、钛金属粉末和多孔钛板为基体，研究钛基材料表面微观结构对ATO层泥裂现象的影响，并对电极的表面形貌、阻抗和抗氧化性能进行表征和分析。研究结果表明：基体材料微米级薄壁弯曲结构对ATO层的应力具有明显的缓解效果，刻蚀产生的坑道壁对ATO层具有分隔锚定作用，二者结合能够有效消除钛基ATO层的泥裂现象，电极性能得到大幅提升。以多孔钛板为基体制备得到的ATO电极的电荷转移电阻（R_(ct)）约为0.5Ω，仅为致密钛板基体的1/20。电流-时间曲线（扫描电位为2.0V，电解质为0.5mol/L的H_2SO_4）表明，多孔钛板基ATO电极的稳定电流密度为40mA/cm~2，致密钛板基ATO电极的则仅为0.2mA/cm~2。

研发人员：朵亚琳;王岚;张烨;王龙耀;