《一种偏振调制的快速测距方法》

技术简介：

本发明涉及光学检测技术领域,尤其涉及一种偏振调制的快速测距方法,包括S1、选取调制频率范围为Z；S2、在频率范围Z内,从扫频初始点以扫频步进逐步增大调制频率,将扫频频点对应电压差值与阈值进行比较后按照反向扫频,根据反向扫频后的扫频点对应电压差值与阈值比较,输出第一同相频率；S3、将扫频初始点右移一个扫频曲线周期,输出第二同相频率；S4、求精确待测距离。本发明避免了在信噪比极低处直接提取极小点或小范围搜索极小点,通过测量信噪比高处的点,间接得到极小点位置；采用变步进扫频获得一个同相频率初值,减少了扫频点数；兼顾了测量速度及精度,对提高整个测距系统的性能具有重要意义。

研发人员：高书苑;李明;崔捷;王月;华翔;齐飞;关旭东;王磊