《自组装固体硅量子点中的粒径分布（英文）》

技术简介：

提出了一个用来定量分析胶体硅量子点光致荧光光谱的模型,得到量子点的粒径分布,并将此方法应用于固体硅量子点材料粒径分布的分析。结果表明:与胶体硅量子点相比,固体样品中硅量子点粒径分布更宽。这可能是由于固体样品硅在结晶过程中水平方向缺乏约束,因此形成的量子点为椭球形。纳米硅中粒径分布太宽会导致材料带隙分布变宽。减少量子约束效应,限制了这些材料在实际中的应用。

研发人员：贾旭光;ZHANG Tian;LIN Ziyun;CONIBEER Gavin;